XAU-4C專(zhuān)精多功能XRF_涂鍍層測厚儀_X熒光光譜儀_環(huán)保檢測儀

XAU-4C是一款一機多用型X熒光光譜儀/環(huán)保檢測儀，匠心打造的新一代設計，是一款獨具科技感的一機多用型光譜儀，采用先進(jìn)的EFP算法和微光聚集技術(shù)的同時(shí)搭配新一代的多道及時(shí)序排列，專(zhuān)精型既保留了專(zhuān)用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿(mǎn)足微區RoHS檢測及全元素分析，每一個(gè)功能都是最專(zhuān)業(yè)的。

1）搭載微聚焦加強型X射線(xiàn)發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉換聚焦系統，最小測量面積達0.03mm2

2）擁有無(wú)損變焦檢測技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測，凹槽深度范圍0-30mm

3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

4）配備高精密微型移動(dòng)滑軌，可實(shí)現多點(diǎn)位、多樣品的精準位移和同時(shí)檢測

5）裝配Si-Pin半導體探測器，分辨率高，測試速度快，數據穩定

6）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

7）成分分析范圍：硫S(16)- 鈾U（92）

8）RoHS、鹵素有害元素檢測

9）人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

10）標配4準直器自動(dòng)切換

11）配有微光聚集技術(shù)，最近測距光斑擴散度小于10%

一六儀器研制的光譜儀獨特的光路交換裝置， 讓x射線(xiàn)和可見(jiàn)光攝向同一垂直線(xiàn)，達到測試不同距離的定位與視覺(jué)在同一位置，搭配嵌入集成式多準直孔、 濾光片切換裝置，x光擴散度極??；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍，可以減少弧度傾斜放樣帶來(lái)的誤差，同時(shí)特征X射線(xiàn)可以穿透測試更厚的表層。

XAU-4C廣泛應用于半導體行業(yè)、新能源行業(yè)、5G通訊、環(huán)保行業(yè)、汽車(chē)行業(yè)、衛浴裝飾、航空航天、引線(xiàn)支架、電鍍行業(yè)等多種領(lǐng)域